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方案概述

存儲芯片測試方案概述

針對存儲類芯片測試，加速科技推出針對大中小不同芯片容量的測試方案：ST2500E、ST2500EX和Flex10K-M。ST2500E、ST2500EX應(yīng)對中小容量存儲芯片測試，可分別支持512至1024路數(shù)字通道，對于市場上EEPROM、中小容量Nor Flash及嵌入式存儲器有著良好的支持。適合的DIO通道與電源、高壓源配比，模塊化的資源，使得多site擴展簡單易行。高容量向量深度，可滿足中小容量存儲芯片的存儲功能測試。系統(tǒng)、各模塊間高速通信帶寬，算法硬件調(diào)度，可有效提升測試效率。

Flex10K-M系列是針對FLASH/EEPROM/SRAM等存儲類芯片測試研發(fā)的大容量高密度數(shù)字測試系統(tǒng)，系統(tǒng)可以提供多達2560數(shù)字通道，768DPS通道，支持ALPG算法，可以支持Nor Flash/Nand Flash/EEPROM/SRAM芯片測試。

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